加急见刊

基于STM32的热敏探测器均匀性测试仪的设计

简献忠; 孙亚成; 王如志; 姜冠祥 上海理工大学光电与计算机工程学院教育部及上海市现代光学系统重点实验室; 上海市200093; 北京工业大学; 北京市100124; 上海雄博精密仪器股份有限公司; 上海市200044

摘要：针对传统热敏探测器均匀性测试仪智能化程度低和系统运行实时性差的问题出了一种基于STM32F373的热敏探测器均匀性测试仪的设计方法。测试仪由以STM32f373为核心的电路系统、光学聚焦系统、XY两轴位置控制平台、信号放大与采集系统和控制与显示系统组成,上位机采用VB进行了系统编程。采用热敏探测器进行系统测试,多次测试表明设计的均匀性测试仪的重复精度为0.82%,测试单点时间为1.49s,为小型化均匀性测试仪的设计提供了一种方法。

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