基于FPGA的数传电缆衰减特性检测实验系统研究
摘要：衰减率是数传电缆一个重要的技术指标。介绍了基于FPGA和AD/DA模块的数传电缆衰减特性检测系统,给出了系统的硬件结构图和基于FPGA对AD/DA模块控制的流程图,以及用上位机对实验结果进行显示。针对工业现场噪声干扰大的难题,设计了频谱分析环节,直接用FFT（快速傅立叶变换）求出正弦波的幅值,把AD的输出幅值和DA的输入的幅值进行比较,得出电缆的衰减率。采用上位机显示输出,进而能直观地分辨电缆的好坏。实验结果表明,所设计的系统在10KHz-700KHz范围内,能够实现电缆衰减率的检测。
注: 保护知识产权,如需阅读全文请联系仪器仪表与分析监测杂志社
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