《Surface Topography-Metrology and Properties》 期刊名缩写:SURF TOPOGR-METROL 22年影响因子:2.185 issn:2051-672X eIssn:2051-672X 类别: 工程技术 学科与分区: 仪器仪表(INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION) - SCIE(Q3)材料科学,多学科(MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY) - SCIE(Q3)工程、机械(ENGINEERING, MECHANICAL) - SCIE(Q3) 出版国家或地区: 出版周期: 出版年份:0 年文章数:36 是否OA开放访问:No Gold OA文章占比:4.76% 官方网站: 投稿地址: 编辑部地址: