《JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING》 期刊名缩写:J ELECTRON IMAGING 22年影响因子:0.829 issn:1017-9909 eIssn:1560-229X 类别: 工程技术物理 学科与分区: 工程、电气和电子(ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC) - SCIE(Q4)光学(OPTICS) - SCIE(Q4)影像科学与摄影技术(IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY) - SCIE(Q4) 出版国家或地区:UNITED STATES 出版周期:Quarterly 出版年份:1992 年文章数:224 是否OA开放访问:No Gold OA文章占比:4.33% 官方网站:spie.org/x868.xml 投稿地址:jei.peerx-press.org/cgi-bin/main.plex 编辑部地址:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151 录用难度:容易