加急见刊

基于半导体探测法220Rn测量仪的准确刻度

昊喜军 李志强 单健 周青芝 黄成 南华大学数理学院 湖南衡阳421001 南华大学核科学技术学院 湖南衡阳421001

摘要：采用多道脉冲幅度分析器测定216Po6．78MeV能谱峰对6．00MeV计数区的峰重叠因子μ为0．0897．将流气式固体220Rn源作为标准源测定220Rn测量仪测220Rn刻度系数为9．4004．提高了半导体探测法型220Rn测量仪刻度的准确性与测220Rn准确度．

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