加急见刊

基于计数截断方法的低入侵性核部件成像认证技术

朱剑钰; 戴昊炜; 吴其松; 谢文雄 中国工程物理研究院战略研究中心; 北京100088; 北京应用物理与计算数学研究所; 北京100094; 中国科学院电子学研究所; 北京100190

摘要：利用MATLAB软件模拟了核裁军核查领域中用于核部件认证的中子计数截断成像方法的处理流程,研究了该方法的有效性和入侵性。通过引入截断矩阵,使该方法具备了通过调节截断参数改变入侵性的能力。数值模拟结果表明,通过限制探测器计数方式,可以在满足认证结果有效的同时,降低主动中子成像技术的入侵性。

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