加急见刊

样品晶粒尺寸及高度偏差对XRD的影响

肖康; 王琼; 苏凡; 马延文; 辛颢 南京邮电大学材料科学与工程学院; 江苏南京210023; 南京林业大学现代分析测试中心; 江苏南京210037

摘要：样品晶粒尺寸及样品高度偏差对XRD测试结果存在极大影响.实验结果表明,晶粒尺寸过大会导致异于标准卡片的衍射峰出现,且衍射谱图不具有重现性;样品高度偏差则会导致衍射峰位移动,正高度偏差使衍射峰向高角度方向移动,负高度偏差使衍射峰向低角度方向移动,峰位移动量与高度偏差呈正比：△2θ=360cosθ/πR△h.样品晶粒和高度偏差过大以致结果异常的情况应视为制样错误,

注: 保护知识产权,如需阅读全文请联系广州化学杂志社