《Journal of X-Ray Science and Technology》 期刊名缩写:J X-RAY SCI TECHNOL 22年影响因子:2.442 issn:0895-3996 eIssn:1095-9114 类别: 化学工程技术物理 学科与分区: 仪器仪表(INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION) - SCIE(Q3)光学(OPTICS) - SCIE(Q3)物理,应用(PHYSICS, APPLIED) - SCIE(Q3) 出版国家或地区:NETHERLANDS 出版周期:Quarterly 出版年份:1989 年文章数:74 是否OA开放访问:No Gold OA文章占比:4.90% 官方网站:iospress.metapress.com/content/300181/ 投稿地址:www.iospress.nl/loadtop/load.php?isbn=08953996 编辑部地址:IOS PRESS, NIEUWE HEMWEG 6B, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1013 BG 录用难度:容易